102 FUNSU - Funktionsschalter der SWU

 
Variantengültigkeit
Funktionen des AMO
Fehler- und Hinweismeldungen
Querbeziehungen
Parameterbeschreibung
 
Der AMO FUNSU bearbeitet Aufträge für die RTO (Routine Test Organisation) der SWU (Typ RTO) zum/zur
•
Ein-/ Ausschalten,
•
Verändern der Starthäufigkeit von einzelnen Routineprüfungen,
•
Veränderung von Zeitparametern,
•
Zustandsabfrage und Ausgabe der Steuerdaten.
Ferner können die Schalter ’Laden von HD’ für die Loadware der Peripherie und ’Flash’ zum Laden Flash memory gesetzt werden (Typ PIT).
Schalten der RTO SWU
Folgende Schaltvorgänge sind möglich:
•
alle Routineprüfungen der SWU;
•
alle Routineprüfungen in allen oder bestimmten CC-Hälften;
•
alle Routineprüfungen in allen oder bestimmten LTG-Hälften;
•
bestimmte Gruppen von Routineprüfungen.
Standardwert ist ’TRUE’ (RTO darf gestartet werden).
Verändern der Starthäufigkeit von einzelnen Routineprüfungen
Über einen Parameter (RAFREQ) kann die Starthäufigkeit einzelner Routineprüfungen gesteuert werden.
 
Tabelle 12
Routineprüfungen
RAFREQ
Bedeutung
•
0
•
Prüfung wird nie gestartet
•
1
•
Prüfung wird bei jedem Durchlauf gestartet
•
2
•
Prüfung wird bei jedem 2. Durchlauf gestartet
•
.
•
 
•
255
•
Prüfung wird bei jedem 255. Durchlauf gestartet
Verändern von Zeitparametern
Je Gruppe von Routineprüfungen können mit Hilfe des AMO FUNSU folgende Zeitparameter verändert werden:
•
Startzeitpunkt der Testgruppe (RASTART);
•
Zeitpunkt, ab dem diese Testgruppe nicht mehr gestartet wird (RASTOP);
•
Pausenzeit zwischen zwei Prüfdurchläufen (RAPAUSE);
Zustandsabfrage und Ausgabe der Steuerdaten
Folgende RTO-Zustände können ausgegeben werden:
•
Starterlaubnis der AM (Betriebstechnik) für die RTO eines Moduls (CC oder LTG);
•
Starterlaubnis der FA (Fehleranalyse) für die RTO eines Moduls (CC oder LTG);
•
Starterlaubnis der AM für eine Prüfgruppe;
•
RTO-Zustand einer Prüfgruppe;
•
Starthäufigkeit von einzelnen Routineprüfungen.
Ferner können je Prüfgruppe
•
Startzeit,
•
Endezeit und
•
Pausenzeit
ausgegeben werden.
Tabelle 13
Grundinitialisierung
Grundinitialisierung des statischen RTO-Speichers
 
Gesamte RTO
Starterlaubnis AM
JA
 
 
Starterlaubnis FA
JA
 
RA-Gruppe RAC
Starterlaubnis AM
JA
 
 
RTO-Zustand
NOT ALLOWED
 
 
Startzeit (HH)
0
 
 
Endezeit (HH)
24
 
 
Pausezeit (S)
600
 
 
Prüfhäufigkeit IPREQ
2
 
 
Prüfhäufigkeit CCHREQ
2
 
 
Prüfhäufigkeit MBUAREQ
2
 
 
Prüfhäufigkeit IOCCAREQ
2
 
 
Prüfhäufigkeit IOCGREQ
2
 
 
Prüfhäufigkeit DCLREQ
2
*1
 
Prüfhäufigkeit MBUATEST
1
 
 
Prüfhäufigkeit IOCCATST
1
 
 
Prüfhäufigkeit CCHIECBS
6
 
 
Prüfhäufigkeit IPTEST
1
 
RA-Gruppe RAP1
Starterlaubnis AM
JA
 
 
RTO-Zustand
NOT ALLOWED
 
 
Startzeit (HH)
0
 
 
Endezeit (HH)
24
 
 
Pausezeit (S)
180
 
 
Prüfhäufigkeit DPTIMOUT
3
 
 
Prüfhäufigkeit DPWDCTR0
40
 
 
Prüfhäufigkeit DPWDCTR1
40
 
 
Prüfhäufigkeit DPRDYREQ
3
 
 
Prüfhäufigkeit DCLTEST
3
 
 
Prüfhäufigkeit BDHWYTST
3
 
 
Prüfhäufigkeit CCHIECBS
20
 
 
Prüfhäufigkeit MEMACEA
240
 
 
Prüfhäufigkeit MEM1AREQ
40
 
 
Prüfhäufigkeit GSNMTSCM
20
 
 
Prüfhäufigkeit LTUCUPRQ
1
 
 
Prüfhäufigkeit SYMCHKAL
240
 
 
Prüfhäufigkeit CONWADP
5
 
 
Prüfhäufigkeit SURVPATA
240
 
RA-Gruppe RAP2
Starterlaubnis AM
JA
 
 
RTO-Zustand
NOT ALLOWED
 
 
Startzeit (HH)
0
 
 
Endezeit (HH)
4
 
 
Pausezeit (S)
3600
 
 
Prüfhäufigkeit CIRA
2
 
 
Prüfhäufigkeit CIRAENDA
2
 
RA-Gruppe RAP3
Starterlaubnis AM
JA
 
 
RTO-Zustand
NOT ALLOWED
 
 
Startzeit (HH)
0
 
 
Endezeit (HH)
24
 
 
Pausezeit (S)
3600
 
 
Prüfhäufigkeit UPAREQ
1
 
 
Prüfhäufigkeit LTUAHWYA
4
 
 
Prüfhäufigkeit STBYHWYA
4
 
 
Prüfhäufigkeit SIUTSTTR
1
 
 
Prüfhäufigkeit SIUDTO
1
 
 
Prüfhäufigkeit SIUPTO
1
 
 
Prüfhäufigkeit SIUCSCR
1
 
 
Prüfhäufigkeit SIUPCSCR
1
 
 
Prüfhäufigkeit LTUCCCBM
2
 
 
Prüfhäufigkeit SIUPTDSA
4
 
 
Prüfhäufigkeit SIUTDSA
1
 
(*1) Bei EC-HW betreffen diese Prüfungen die DDCL-Baugruppe
Mikroprozessorprüfung LTUC
Die LTUC-Baugruppe kann durch sporadische Störungen hardwaremäßig zurückgesetzt werden; damit geht anschließend das betroffene Shelf außer Betrieb. Diese Betriebsstörung wird der Sicherheitstechnik nicht mitgeteilt, so daß diese nicht entsprechend reagieren kann. Erst durch die Püfung des Mikroprozessors durch die RTO wird die LTUC wieder inbetriebgenommen. Der Prüfzyklus der Mikroprozessor-Prüfung durch die RTO wurde daher so verkürzt, daß ein Ausfall des Prozessors der LTUC kurzfristig erkannt wird.
Die LTUC-Mikroprozessor-Prüfung nicht mehr im Rahmen der allgemeinen Mikroprozessor-Prüfung UPAREQ, sondern als eigene Prüfung LTUCUPRQ durchgeführt.
Die Wiederholzeit (auch Pausenzeit oder Prüfzyklus genannt) wird auf 3 Minuten festgelegt. Der Bediener kann nach Bedarf diesen Prüfzyklus verändern. Es wird jedoch empfohlen, diese Prüfung im Abstand von höchstens 3 Minuten zu starten, das heißt, RAPAUSE der Gruppe RAP1 multipliziert mit RAFREQ der Prüfung LTUCUPRQ sollte 180 (Sekunden) nicht überschreiten.
Die Aktion SETZEN wird verwendet, um RTO-Prüfungen vorbereitend zu setzen, die anschließend von der RTO auszuführen sind. Die Änderungen der Aktion SETZEN werden aber nur nach Aufruf der Aktion EXEC tatsächlich ausgeführt.
Setzen des Schalters ’Laden von HD’
Die Loadware wird im Zuge des ersten Anlagenhochlaufs in das RAM der LTG geladen und dort restartsicher abgelegt.
Die Versorgung der Baugruppen mit LW erfolgt dann nur noch aus der LTG und nicht mehr, wie bisher, von der HD. Ein Austausch der LW auf der HD wirkt sich in der Peripherie zunächst überhaupt nicht aus, es sei denn, eine LTG wird neu geladen.
Um darüber hinaus einen selektiven LW-Tausch durch Ziehen und Stecken von Baugruppen zu ermöglichen, definiert die zentrale Peripherie-Initialisierungs-Task (PIT) einen SW-Schalter, der, falls gesetzt, im Falle eines HR der LTG oder beim Stecken von BG bewirkt, daß die LW von der HD geladen wird.
Das Setzen dieses Schalters in der PIT geschieht mit Hilfe einer Meldung.
Setzen des Schalters ’Flash Memory laden’
Nach einem Hard-Restart ohne neu Laden werden Flash-Speicher-Moduln, wie alle anderen restartfähigen Moduln, nicht neu geladen. Ein neu konfigurierter Modul muß expliziert gekennzeichnet werden, daß es neu zu laden ist. Dies passiert mit dem Parameter ’Flash Memory laden’. Falls gesetzt, werden alle Moduln dieses Typs während des nächsten Lade-Auftrags (Hochlauf oder neu Laden) mit der neuen Loadware neu geladen.
OpenScape 4000 V10, Band 1: AMO Beschreibungen, Servicedokumentation, Ausgabe 12, ID: P31003H31A0S107120020
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